日本nanogray X射線測厚儀SX-1100

日本nanogray X射線測厚儀(yi) SX-1100

測厚儀(yi) （薄膜測厚儀(yi) ）使用軟X射線（soft X-rays）。以非接觸方式（軟 X 射線）測量片材和板狀物體(ti) 的厚度和密度（基重）。不是直接測量厚度，而是通過與(yu) 參考物質比較來計算厚度和密度（基重）。
　通常，為(wei) 了測量片材寬度方向的厚度分布，檢測係統由掃描儀(yi) 攜帶進行測量。激光位移計一般用作非接觸方式測量厚度的手段，但如果激光位移計安裝在掃描儀(yi) 上，在運輸過程中隻能以遠低於(yu) 激光位移計的精度進行運輸, 導致結果. 高精度測量是困難的。
　另一方麵，在X射線測厚儀(yi) 等通過透射衰減估算厚度的方法中，測量的是空氣層-樣品-空氣層與(yu) 透射之間的衰減，但樣品的衰減遠大於(yu) ，傳(chuan) 輸的影響隻表現為(wei) 空氣層厚度的變化，影響很小。因此，可以高精度地進行測量。    

軟X射線測厚儀(yi) 的一般特點

1. 無需規定輻射處理負責人或X射線工作負責人或設置控製區域
   （需要通知勞動標準檢查辦公室）
   

2. 路徑錯誤可以忽略
   

3. 高元素依賴性
   

與(yu) 傳(chuan) 統的軟 X 射線測厚儀(yi) 相比，我們(men) 的軟 X 射線測厚儀(yi) 的特點

1. 探測器和 X 射線源結構緊湊、重量輕，甚至可以安裝在狹窄的線路中。
   

2. 測量範圍廣（材料/厚度）
   

用途

• 銅箔、鋁箔、不鏽鋼箔
  

• 電池電極
  

• 陶瓷（薄片、晶片）
  

• 玻璃纖維布

日本nanogray X射線測厚儀(yi) SX-1100