雙式膜厚計LZ-373：高精度薄膜測厚儀解決方案

簡介：
雙式膜厚計LZ-373是一款中型雙膜測厚儀(yi) ，具備電磁感應和渦流探頭，廣泛應用於(yu) 測量磁性材料上的非磁性塗層和非磁性金屬上的絕緣塗層。該測厚儀(yi) 具有廣泛的測量範圍和高精度測量能力，支持數據存儲(chu) 和統計計算功能。

主要特點：

1. 雙式測量方法：雙式膜厚計LZ-373采用電磁感應和渦流組合型測量方法，適用於(yu) 不同類型的塗層和金屬材料測量。

2. 寬泛測量範圍：電磁感應型測量範圍為(wei) 0~2500μm或99.0mils，渦流型測量範圍為(wei) 0~1200μm或47.0mils。

3. 高精度測量：測量精度在50μm以下為(wei) ±1μm，在50μm以上且1000μm以下為(wei) ±2%，1000μm以上為(wei) ±3%。

4. 數據存儲(chu) 與(yu) 統計計算：膜厚計具有大約39,000個(ge) 點的數據內(nei) 存，並支持統計計算功能。

5. 多種兼容標準：雙式膜厚計LZ-373兼容多種標準，如JIS、ISO、BS和ASTM標準。

6. 方便實用的設計：該測厚儀(yi) 采用數字式顯示，帶背光LCD，最小顯示位數為(wei) 0.1μm。支持外部輸出連接計算機，具備便攜包和長達100小時的電池壽命。

技術規格：

• 測量方法：電磁感應/渦流組合型

• 測量目標：磁性材料上的非磁性塗層和非磁性金屬上的絕緣塗層

• 測量範圍：電磁感應型0~2500μm，渦流型0~1200μm

• 測量精度：50μm以下為(wei) ±1μm，50μm以上且1000μm以下為(wei) ±2%，1000μm以上為(wei) ±3%

• 解決(jue) 能力：100μm以下為(wei) 0.1μm，100μm以上為(wei) 1μm

• 兼容標準：電磁感應型兼容JIS、ISO、BS和ASTM標準，渦流型兼容JIS、ISO、BS和ASTM標準

• 數據存儲(chu) 器數量：約39,000個(ge) 點

• 外部輸出：計算機（USB或RS-232C）

• 電源：電池1.5V（AA堿性）x 4

• 工作溫度限製：0～40℃

• 尺寸/質量：75（寬）×145（深）×31（高）毫米，0.34千克

附件和選項：
附件：標準板（10μm、50μm、100μm、500μm、1000μm、1500μm）、標準板盒、鐵底座（FE-373）、鋁底座（NFE-373）、探頭適配器、便攜包、電池1.5V（AA堿性）x 4
選項：可選標準板、測量支架LW-990、計算機電纜、RS-232C-USB電纜、數據管理軟件：“Data Logger LDL-03"

結語：
雙式膜厚計LZ-373是一款高精度薄膜測厚儀(yi) ，具備電磁感應和渦流組合型測量方法，可測量磁性材料上的非磁性塗層和非磁性金屬上的絕緣塗層。該測厚儀(yi) 具有廣泛的測量範圍、高精度測量能力和數據存儲(chu) 統計計算功能，滿足各種標準要求。便攜設計和多種附件和選項使其易於(yu) 操作和使用，適用於(yu) 工業(ye) 領域的薄膜測厚應用。