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    離線接觸式測厚儀TOF-4R05的技術特點和應用

    發布時間： 2023-09-11　　點擊次數： 371次

    摘要：本文介紹了TOF-4R05型離線接觸式測厚儀(yi) 的技術特點和應用。該測厚儀(yi) 采用接觸式和線性規/夾緊方法進行測量，適用於(yu) 薄膜和片材的厚度測量。它具有輕鬆快速的測量過程和實時顯示測量數據的優(you) 勢。同時，測量數據可以自動保存到計算機中，確保數據的準確記錄。該測厚儀(yi) 還可用於(yu) 質量控製、研究和開發等應用領域。

    1. 引言

    離線接觸式測厚儀(yi) 是一種用於(yu) 測量薄膜和片材厚度的設備。TOF-4R05型測厚儀(yi) 采用接觸式和線性規/夾緊方法，能夠快速準確地測量材料的厚度。該測厚儀(yi) 在質量控製、研究和開發等領域具有廣泛的應用。

    1. 技術特點

    TOF-4R05型離線接觸式測厚儀(yi) 具有以下技術特點：

    2.1 輕鬆快速的離線測量：使用接觸式和線性規/夾緊方法，可輕鬆、快速地進行離線厚度測量。測量數據實時顯示在屏幕上。

    2.2 自動數據保存：測量數據可以自動保存到計算機中，確保數據的準確記錄和方便管理。

    2.3 適用於(yu) 各種材料：TOF-4R05型測厚儀(yi) 適用於(yu) 測量薄膜和片材，包括有卷曲等特殊情況的厚紙材料。

    2.4 最小顯示值為(wei) 0.5微米：該測厚儀(yi) 具有高精度的測量能力，最小顯示值為(wei) 0.5微米，可以滿足對細小厚度變化的需求。

    1. 應用領域

    TOF-4R05型離線接觸式測厚儀(yi) 廣泛應用於(yu) 以下領域：

    3.1 質量控製：在生產(chan) 過程中，測量材料的厚度對於(yu) 確保產(chan) 品質量至關(guan) 重要。TOF-4R05型測厚儀(yi) 可以快速、準確地測量材料的厚度，並幫助實現質量控製。

    3.2 研究和開發：在新材料的研究和開發過程中，需要對材料的厚度進行準確測量。TOF-4R05型測厚儀(yi) 可以提供精確的厚度數據，為(wei) 研究人員和開發人員提供重要參考。

    1. 產(chan) 品規格

    TOF-4R05型離線接觸式測厚儀(yi) 的主要規格如下：

    • 測量厚度範圍：0.03～3mm

    • 測量長度範圍：10～10000mm

    • 測量間距：1毫米以上

    • 最小顯示值：0.5微米

    • 測量壓力：0.6±0.1N

    • 電源電壓：AC100~240V 50/60Hz

    • 工作溫度限製：5～40℃

    • 濕度限製：35-80%（無冷凝）

    1. 結論

    TOF-4R05型離線接觸式測厚儀(yi) 具有輕鬆快速的測量過程和實時顯示測量數據的特點，廣泛應用於(yu) 質量控製、研究和開發等領域。其高精度的測量能力和自動數據保存功能，使得該測厚儀(yi) 成為(wei) 理想的選擇。未來，我們(men) 相信TOF-4R05型測厚儀(yi) 將在材料測量領域發揮更多重要作用。


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