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日本反射/透射/薄膜厚度測量係統F10-RT
F10-RT 是一款集成了測量單元和測量台的緊湊型台式測量係統。可同時測量反射率和透射率,並可輕鬆分析膜厚、折射率和消光係數。
隻需一根 USB 線和電源線即可輕鬆連接,無需調整光學係統,無需複雜設置,而且設置非常簡單。
主要特點
集成測量單元和測量台的緊湊型台式測量係統
光譜範圍廣,可選擇多種光源反射率和透射率同時測量,膜厚、折射率和可用分析能力消光係數
標準維護時間記錄的相機測量位置放個(ge) 樣品就行了。無需調整光學元件,非常容易設置
主要應用
平板 | 聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射塗層、PET和玻璃基板上的各種光學膜 |
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光學鍍膜 | 玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質塗層。 |
薄膜太陽能電池 | CdTe、CIGS、非晶矽等 |
產品陣容
模型 | F10-RT -紫外線 | F10-RT | F10-RT -近紅外 | F10-RT -近紅外 | F10-RT -UVX |
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測量波長 範圍 | 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm | 380 – 1050nm | 190 – 1700nm |
膜厚測量 範圍 | 1nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 150μm | 15nm – 150μm | 1nm – 150μm |
準確性 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ||
1納米 | 2納米 | 3納米 | 2納米 | 1納米 | |
光源 | 氘· 鹵素 | 鹵素 | 氘· 鹵素 |