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日本反射/透射/薄膜厚度測量係統F10-RT 測厚儀

更新日期:2024-05-15

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廠商性質:經銷商

生產(chan) 地址:

簡要描述:
日本反射/透射/薄膜厚度測量係統F10-RT
F10-RT 是一款集成了測量單元和測量台的緊湊型台式測量係統。可同時測量反射率和透射率,並可輕鬆分析膜厚、折射率和消光係數。

日本反射/透射/薄膜厚度測量係統F10-RT

F10-RT 是一款集成了測量單元和測量台的緊湊型台式測量係統。可同時測量反射率和透射率,並可輕鬆分析膜厚、折射率和消光係數。

隻需一根 USB 線和電源線即可輕鬆連接,無需調整光學係統,無需複雜設置,而且設置非常簡單。

主要特點

  • 集成測量單元和測量台的緊湊型台式測量係統
    光譜範圍廣,可選擇多種光源

  • 反射率和透射率同時測量,膜厚、折射率和可用分析能力消光係數
    標準維護時間記錄的相機測量位置

  • 放個(ge) 樣品就行了。無需調整光學元件,非常容易設置

主要應用

平板聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射塗層、PET和玻璃基板上的各種光學膜
光學鍍膜玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質塗層。
薄膜太陽能電池CdTe、CIGS、非晶矽等

產品陣容

 

 模型

 F10-RT

-紫外線

 F10-RT

 F10-RT

-近紅外

 F10-RT

 -近紅外

 F10-RT

 -UVX

測量波長

範圍

 190 – 1100nm380 – 1050nm 950 – 1700nm 380 – 1050nm190 – 1700nm

膜厚測量

範圍

 1nm – 40μm15nm – 70μm 100nm – 150μm 15nm – 150μm1nm – 150μm

準確性

± 0.2% 薄膜厚度± 0.4% 薄膜厚度± 0.2% 薄膜厚度
1納米2納米3納米2納米1納米

光源

氘·

鹵素

鹵素

氘·

鹵素



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