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Facescope PMP10 渦流相位薄膜測厚儀

更新日期:2024-05-14

訪問量:794

廠商性質:經銷商

生產(chan) 地址:

簡要描述:
Facescope PMP10 渦流相位薄膜測厚儀
PHASCOPE ® PMP10
這是渦流相位式膜厚計。適用於測量表麵粗糙的薄膜、螺絲頭、小零件、通孔鍍銅等薄膜厚度。

Facescope PMP10 渦流相位薄膜測厚儀(yi)

Facescope PMP10 渦流相位薄膜測厚儀(yi)

日本進口fischer-Facescope PMP10 渦流相位薄膜測厚儀(yi)

特征

  • 適用於粗糙表麵、小零件、通孔鍍銅等的膜厚測量。
  • 也適用於測量鐵上鎳層的膜厚
  • 您可以直接測量抗蝕劑膜下印刷電路板上的銅膜厚度。

主要規格

測量方法渦流相位方程
測量範圍各種連接探針的

銅膜厚度(PCB等通孔內):5 -80 µm PCB等銅膜厚度
:1 --270 µm
地麵Fe Cu膜:1 --200 µm 
Fe Zn 地麵膜: 2-200 µm
地麵Fe Ni膜:1-50µm (240kHz), 2-100µm (60kHz)
地麵Fe Zn或Cu膜:1-150µm
測量記錄20,000例
車身尺寸230 毫米 x 95 毫米 x 52 毫米(長 x 寬 x 高)
液晶顯示器62 毫米 x 43 毫米(寬 x 高)
重量約 600g(主機和電池)
電源供應4.8V 電池,交流適配器(100-240V)

主要應用

  • 印製電路板銅膜厚度
  • 印刷電路板上通孔銅厚
  • 螺絲頭等鐵上鋅的厚度

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