銷售熱線

18927404065

星空体育app最新版本下载PRODUCTS

您當前的位置：首頁 > 星空体育app最新版本下载 > 檢查燈 > 光學檢查燈 > 日本cew光學微缺陷檢測設備CEW 光學測量儀

日本cew光學微缺陷檢測設備CEW 光學測量儀

更新日期：2024-05-16

訪問量：1314

廠商性質：經銷商

生產(chan) 地址：

簡要描述：
日本cew光學微缺陷檢測設備CEW
光學分辨率1.8μm，速度檢測！
用於基板和金屬表麵的缺陷檢測！

日本cew光學微缺陷檢測設備CEW

image.png

光學分辨率1.8μm，速度檢測！

用於(yu) 基板和金屬表麵的缺陷檢測！

概述

使用高分辨率相機和高精度 XY 載物台的二維檢測係統。
適用於(yu) 光學薄膜、片材、觸控麵板等表麵劃痕、異物、缺陷的檢測。
憑借 1.8 μm 的光學分辨率，可以進行超高清檢測。
它還可以測量尺寸和檢查二維衝(chong) 壓產(chan) 品。

特征

  • 自動保存檢測數據和圖像

  • 攝像頭像素：900萬(wan) 像素

  • 高光學分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精細的檢測點。

  • 適合檢查觸摸麵板的外圍電極和印刷電路板上的精細布線是否有斷線和短路。

用法

用於(yu) 檢查觸摸麵板和異物等缺陷！



  • 觸控麵板周邊電極缺陷檢測

  • 板材表麵劃傷(shang) 和異物檢查

  • 基板缺陷檢查

係統配置

日本cew光學微缺陷檢測設備CEW

光學分辨率1.8μm，速度檢測！

用於(yu) 基板和金屬表麵的缺陷檢測！

概述

使用高分辨率相機和高精度 XY 載物台的二維檢測係統。
適用於(yu) 光學薄膜、片材、觸控麵板等表麵劃痕、異物、缺陷的檢測。
憑借 1.8 μm 的光學分辨率，可以進行超高清檢測。
它還可以測量尺寸和檢查二維衝(chong) 壓產(chan) 品。

特征

  • 自動保存檢測數據和圖像

  • 攝像頭像素：900萬(wan) 像素

  • 高光學分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精細的檢測點。

  • 適合檢查觸摸麵板的外圍電極和印刷電路板上的精細布線是否有斷線和短路。

用法

用於(yu) 檢查觸摸麵板和異物等缺陷！



  • 觸控麵板周邊電極缺陷檢測

  • 板材表麵劃傷(shang) 和異物檢查

  • 基板缺陷檢查



留言框

  • 產品：

  • 您的單位：

  • 您的姓名：

  • 聯係電話：

  • 常用郵箱：

  • 省份：

  • 詳細地址：

  • 補充說明：

  • 驗證碼：

    請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7