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X射線熒光測量儀(yi) XDV ® -μ LD
X射線熒光測量儀(yi) XDV ® -μ LD
日本進口fischerX射線熒光測量儀(yi) XDV ® -μ LD
特征
- 與樣品的測量距離長的長距離型
- 適用於測量帶台階的安裝板
- 用於顯微測量的微聚焦管和多毛細管透鏡
- 使用可編程 XY 平台進行自動測量
主要規格
它是一種使用多毛細管光學元件的熒光 X 射線測量設備。
此外，由於(yu) 是長距離型，測量距離約為(wei) 12 mm，因此可以在安裝有台階的板上無損地測量膜厚和分析材料。
| 模型 | XDV-μLD |
|---|---|
| 測量元件範圍 | 小號 (16) - 小號 (92) |
| X射線探測器 | 矽漂移探測器 (SDD) |
| X射線管 | 微調焦管 |
| 初級過濾器 | 4種 |
| X射線光學 | 多毛細管 |
| 測量光斑尺寸 | 約Φ80µm |
| 測量距離（與樣品的距離） | 約12mm |
| 車身尺寸 | 660 x 835 x 720mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
主要應用
- 印刷電路板、連接器等形狀複雜的小零件和結構零件的測量
- 薄膜厚度測量（示例）Au ≤0.1 µm
- 複雜多層塗層的成分分析和膜厚測量
- 可以安裝可選的大型板和柔性印刷線路板的擴展板
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