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熒光X射線測量儀(yi) XAN ®係列
熒光X射線測量儀(yi) XAN ®係列
日本進口fischer熒光X射線測量儀(yi) XAN ®係列
特征
- 由於測量方向是從下方照射的,因此樣品定位很容易。
- 配備矽漂移檢測器,可實現高分辨率和高靈敏度測量(XAN250、XAN252)
- 緊湊的設計
主要規格
從(cong) 底部看是輻照式熒光X射線膜厚測量和材料分析儀(yi) 。X 射線探測器有多種組合,例如半導體(ti) 探測器 (PIN)、矽漂移探測器 (SDD)、可電動更換的濾波器和準直器。
模型 | XAN 215 |
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測量元件範圍 | 氯 (17) -U (92) |
X射線探測器 | 半導體探測器(PIN) |
X射線管 | 微調焦管 |
初級過濾器 | 1種固定 |
準直器數量/尺寸 | 1型固定/Φ1mm |
車身尺寸 | 403 x 588 x 365mm(寬x深x高) |
測量室尺寸 | 310 x 320 x 90mm(寬x深x高) |
能量消耗 | 高達 120W |
模型 | XAN 250 |
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測量元件範圍 | 鋁 (13) -U (92) |
X射線探測器 | 矽漂移探測器 (SDD) |
X射線管 | 微調焦管 |
初級過濾器 | 6種 |
準直器數量/尺寸 | 4種/Φ0.2mm~Φ2mm |
車身尺寸 | 403 x 588 x 365mm(寬x深x高) |
測量室尺寸 | 310 x 320 x 90mm(寬x深x高) |
能量消耗 | 高達 120W |
模型 | 第252章 |
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測量元件範圍 | 鋁 (13) -U (92) |
X射線探測器 | 矽漂移探測器 (SDD) |
X射線管 | 微調焦管 |
初級過濾器 | 6種 |
準直器數量/尺寸 | 4種/Φ0.2mm~Φ2mm |
車身尺寸 | 403 x 588 x 444mm(寬 x 深 x 高) |
測量室尺寸 | 310 x 320 x 174mm(寬 x 深 x 高) |
能量消耗 | 高達 120W |
其他 | 帶手動 XY 平台 |
主要應用
- 珠寶和貴金屬的質量控製和采購評估
- 同時測量合金材料分析和鍍層厚度
- 多層鍍膜厚度測量及基材成分分析
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