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X射線熒光測量儀(yi) XULM ®係列
X射線熒光測量儀(yi) XULM ®係列
日本進口fischerX射線熒光測量儀(yi) XULM ®係列
特征
- 由於測量方向是從下方照射的，因此樣品定位很容易。
- 通過結合電壓和濾波器，可以測量薄到厚的薄膜。
- 測量光斑麵積可測量到 100 µm 級
主要規格
從(cong) 底部看是輻照式熒光X射線膜厚測量和材料分析儀(yi) 。它具有可以電動更換的濾光片和準直器，並且可以進行各種組合。
| 模型 | 第 240 章 |
|---|---|
| 測量元件範圍 | 鈣 (20) -U (92) |
| X射線探測器 | 比例計數器 (PC) |
| X射線管 | 微調焦管 |
| 初級過濾器 | 3種 |
| 準直器數量/尺寸 | 4種 / 0.05 x 0.05mm ~ Φ0.3mm |
| 車身尺寸 | 403 x 588 x 444mm（寬 x 深 x 高） |
| 測量室尺寸 | 310 x 320 x 174mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
主要應用
- 連接器和觸點的多層塗層測量
- 批量生產零件的螺絲和螺母的防腐蝕電鍍鋅/鐵和鋅鎳/鐵等電鍍膜
- 貴金屬估價等
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