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日本densoku便攜式薄膜測厚儀(yi) QNIx係列
日本densoku便攜式薄膜測厚儀(yi) QNIx係列
QNIx係列產(chan) 品允許您僅(jin) 使用超輕巧的緊湊型儀(yi) 器和探頭即可測量薄膜厚度，而無需攜帶笨重的薄膜厚度計。
無線測量無需電纜。除了有助於(yu) 將測量數據傳(chuan) 輸到個(ge) 人計算機外，它還有助於(yu) 防止測量過程中跌落事故的發生。
QNIx係列的功能
無需進行膜校準即可進行精確的膜厚度測量
通過在出廠時輸入16Point校準數據來交付。這樣就無需進行麻煩的薄膜校準工作，並且可以進行精確的薄膜厚度測量。
膜厚測量數據傳(chuan) 輸的新技術
在常規的測量儀(yi) 器中，通過用電纜連接儀(yi) 器主體(ti) 和個(ge) 人計算機來傳(chuan) 輸測量數據。QNIx係列使用，隻需將其插入USB端口即可進行傳(chuan) 輸。可以更快，更輕鬆地查看測量數據。
超輕量無線測量儀(yi)
探頭測得的數據被無線傳(chuan) 輸到主機。與(yu) 傳(chuan) 統產(chan) 品一樣，它也降低了被電纜卡住，阻礙和導致墜落事故的風險。此外，該探頭重30克，重量超輕，因此您不必隨身攜帶沉重的儀(yi) 器。
難以斷裂且在被測物體(ti) 上*跡的探頭
QNIx係列探頭由增強塑料包圍，可將耐用性提高30％。即使發生故障，也很容易拆卸和維修，從(cong) 而縮短了維修時間。此外，還附有紅寶石筆尖，因此可以安全地執行測量而不會(hui) 損壞要測量的物體(ti) （樣品）。
QNIx係列比較規格表
| QNIx 8500 | QNIx 4500/4200 | QNIx 7500 | QNIx Carcheck係統 | 方便的QNIx | |
| 可測量的電影 | [F]鐵材料上的非磁性塗層 [N]非鐵材料上的非導電塗層 [FN]鐵/非鐵材料上的非磁性/非導電塗層 | [FN]鐵/有色金屬材料上的非磁性/非導電塗層 | [FN]鐵/鋁材料上的非磁性，非導電膜厚度 | ||
| 材料識別 | 黑色金屬和有色金屬的 自動識別交換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動識別交換 | 用戶的轉換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動識別交換 | 鐵/有色，自動識別模式轉換 |
| 測量原理 | [F]磁通量（霍爾效應） [N]渦流 | ||||
| 測量範圍 | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0-3,000微米 | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0-5,000微米 | 0-500微米 |
解析度 | 0.1μm，1μm [M] 0.01μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米，1微米 | 5微米 |
| 配置格式 | 0點校正 用戶校準：1 [M] 100件 | 0點校正 | 0點校正 | 沒有校準功能 | 沒有校準功能 |
| 準確性 | ±（1微米+ 2％） ±3.5％ （2毫米或更多） [T] ± （0.3微米+ 2％） | ±（2微米+ 3％） | ±（1微米+ 3％） | ±（1微米+ 2％） ±3.5％ （2毫米或更多） | ±（10微米+ 5％） |
| 測量速度 | 1,500ms （約40次/分鍾） [T] 920ms （約65次/分鍾） [R] 1,600ms （約37次/分鍾） | 600ms （約70次/分鍾） | 1,300ms （約46次/分鍾） | 1,500ms （約40次/分鍾） | 600ms （約100次/分鍾） |
便攜式薄膜測厚儀(yi) 型號代碼指南
[F]鐵金屬材料上非磁性膜厚度的測量
[N]有色金屬材料上非導電膜厚度的測量
[FN]用一個(ge) 探針測量黑色金屬和有色金屬上的薄膜厚度
[T]微型探針
[M]測量數據存儲(chu) 功能，數據傳(chuan) 輸到PC
