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日本densoku電阻式膜厚計RST-231
日本densoku電阻式膜厚計RST-231
易於(yu) 操作且時間短（0.7秒）
，可高精度測量絕緣體(ti) 上的金屬膜
-在0.7秒內(nei) 測量絕緣體(ti) 上的金屬膜-
使用計算機
易於(yu) 查看的屏幕-易於(yu) 校準和測量-
可以立即查看直方圖，輪廓等-
異常值檢測功能
電阻膜厚計RST-231的特點
在0.7秒內(nei) 測量絕緣子上的金屬膜
它可以在短時間內(nei) （0.7秒）高精度測量絕緣體(ti) 上的金屬膜（銅箔，印刷電路板的鍍層等）。
易於(yu) 閱讀的屏幕配置
屏幕大而明亮，使用個(ge) 人計算機時很容易看到。
易於(yu) 校準和測量
易於(yu) 校準和測量。可以選擇兩(liang) 個(ge) 測量範圍（2至24μm，10至120μm）。
可以立即看到各種數字
直方圖，輪廓圖和xR圖表在統計處理後始終立即可用。
離群值檢測功能
如果設定了膜厚的上限和下限，則將通知異常值。
支持更換每個(ge) 探針
如果探頭的探頭損壞，則可以為(wei) 每個(ge) 探頭更換它，並以低價(jia) 維修。
易於(yu) 統計處理
可以保存每個(ge) 通道的測量數據，以後可以為(wei) 測量數據設置統計項目以進行統計處理。
最多可以注冊(ce) 40個(ge) 頻道
由於(yu) 最多可以注冊(ce) 40個(ge) 通道，因此可以根據用戶名和部件號分別注冊(ce) 來管理通道。
支持更換每個(ge) 探針
使用4探針（開爾文型），即使在雙麵板和多層板上也可以不受背麵或內(nei) 層的影響，進行高精度的測量。
直方圖
xR控製圖
統計顯示
| 搜索間隔 | 探針尖 | |
| KD-110 | 1毫米 | 0.1R *標準產品 |
| KD-105 | 1毫米 | 0.05R |
| KD-120 | 1毫米 | 0.2R |
| KD-210 | 2毫米 | 0.1R |
| KD-220 | 2毫米 | 0.2R |
測量原理
 | 探頭有四個金屬針（探針），它們直立在一條直線上。 使四個探針與要測量的絕緣體上的金屬片或鍍金屬表麵接觸。恒定電流（I）穿過兩個外部探頭，以測量電壓（V）。可以在特定條件下通過以下公式計算與探針接觸的金屬片或金屬鍍層的厚度（T）。 T = K×I÷V 這裏，K是一個常數 ，因此可以通過測量兩個內部探針之間的電壓來測量金屬葉片或金屬鍍層的厚度。 |
電阻式膜厚計RST-231的規格・ 4探針探針規格
| 型號（主體） | RST-231型 |
| 測量原理 | 4探針電阻型 |
| 測量範圍 | 2至24μm，10至120μm |
| 通道數 | 40個頻道 |
| 資料容量 | 100,000個數據 |
| 展示 | 取決於計算機的顯示器屏幕 |
| 統計處理 | 值，最小值，平均值，標準偏差，直方圖，上限和下限設置 |
| 電源 | AC100-240V 50 / 60Hz，10VA（主機） |
| 尺寸 | 280（W）x230（D）x88（H）（主機） |
| 配件 | 4探針KD-110 標準板TCU-145探針 |
