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日本densoku渦流膜測厚儀(yi) DS-110
日本densoku渦流膜測厚儀(yi) DS-110
・測量值顯示為(wei) 數字且易於(yu) 閱讀
・接通電源後立即開始測量，測量時間在1秒以內(nei)
・晶體(ti) 振蕩法的高穩定性（±1％）高精度・可進行
檢查無損
・直接讀取由於(yu) 是表達方式，因此無需轉換
渦流膜厚儀DS-110的特點
易於(yu) 閱讀的數字
測量值顯示是數字的，易於(yu) 閱讀。
可以立即進行測量
開關(guan) 一打開就可以進行測量。測量時間也在1秒以內(nei) 。
高穩定性（±1％）高精度
由於(yu) 采用了晶體(ti) 振蕩方法，因此具有很高的穩定性（±1％）和高精度。
可以檢查
由於(yu) 它是非破壞性的，因此可以進行的檢查。
無需轉換
它是直接讀取類型，不需要轉換。
支持各種測量
它可以測量金屬上的薄膜，鍍層，油漆，樹脂等。（例如：鋁上的氧化膜，鐵上的鋅鍍層，噴漆）
最多可保存1000個(ge) 數據
一條檢查線可以保存1000條數據。
還可以測量非金屬上的金屬塗層
它可以測量非金屬上的金屬塗層（例如，塑料上的鍍層）。
標配4種類型，最多可以測量70種薄膜厚度
切換開關(guan) 最多可以測量4種類型的膜厚。另外，通過在製造商處更換檢測線，可以測量70多種類型的膜厚。
可以在彎曲表麵，球形表麵和內(nei) 部管道上進行測量
也可以在彎曲表麵和球形表麵上進行測量。另外，可以測量管等的內(nei) 表麵（φ12.7mm以上）。
打印輸出功能
您可以打印出測量數據和經過統計處理的值。
測量原理
 | 當載有高頻電流的探頭（測量線圈）靠近金屬時，在金屬表麵會產生渦電流。該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率，金屬的電導率，厚度，形狀等的影響，並且穿透深度及其大小不同。 然後，渦流流動以抵消探針的高頻磁場，從而探針的高頻電阻值改變。高頻電阻值的這種變化被放大，曲線校正並顯示為數字值。因此，膜厚值可以直接讀取為數字。曲線校正是由微型計算機計算的。因此，它是高精度和高度穩定的。 |
渦流膜厚儀DS-110的規格
| 電源 | 帶AC適配器的AC100V-240V |
| 重量 | 3.4公斤 |
| 尺寸 | 330（W）x 90（D）x 180（H）毫米 |
渦流膜厚儀DS-110的探頭規格
| 1. 探頭有效範圍使用超細探頭時 | φ5mm的 φ3mm的 |
| 2.探頭線長 | 900毫米 |
| 3.根據導向器的類型可以在彎曲的表麵上進行測量 | |
| 4.探頭類型 | MP類型...平坦凹凸曲麵（標準） SM類型...平坦凹凸曲麵（微細的） RP類型...凹麵，管內麵 SR型...用於小直徑管道內表麵 由所述膜測得的探頭A，B的厚度，有C和D四種類型。 |
| 5.探針指南 | ＃180：平麵測量 ＃120：φ25-60mm凸曲麵測量 |
