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日本densoku渦流膜厚計DMC-211
日本densoku渦流膜厚計DMC-211
・非常適合於(yu) 1秒鍾內(nei) 進行無損測量檢查・
使用個(ge) 人計算機輕鬆進行校準和測量操作・
隻需將探頭應用於(yu) 被測物體(ti) 即可自動捕獲測量值
・特性曲線（校準曲線）是標準的70個(ge) 存儲(chu) 器
・每個(ge) 通道都注冊(ce) 了公司名稱，部件號，批號
渦流膜厚儀DMC-211的特點
數字顯示測量值，讀數
在短時間內(nei) （1秒以內(nei) ），大多數金屬上的膜（鋁上的氧化膜，鋅/鉻上的鍍層/鉻/鐵上的鍍層），非金屬上的大多數金屬膜（塑料上的鍍層等）都可以測量，具有破壞性，它是檢查的理想選擇。
使用個(ge) 人計算機易於(yu) 操作
通過使用個(ge) 人計算機可以輕鬆進行校準和測量等操作。可以選擇各種測量模式，從(cong) 而易於(yu) 測量小零件，例如螺絲(si) 頭，線材和壓鑄產(chan) 品。
配備[自動捕獲]模式
在[自動捕獲]模式下，隻需將探頭觸碰到要測量的對象並將其釋放，即可自動捕獲測量值。
具有豐(feng) 富的特性曲線（校準曲線）的存儲(chu) 器
標準存儲(chu) 70條自動選擇特性曲線（校準曲線）。如果您有用於(yu) 特殊材料的標準板，則可以創建並輸入新的特性曲線（校準曲線）。
公司信息渠道注冊(ce) 功能
可以為(wei) 每個(ge) 通道注冊(ce) 對方的公司名稱，部件號和批號。
頻道總數：40頻道
配備統計處理功能
可以保存每個(ge) 通道的測量數據，以後可以為(wei) 測量數據設置統計項目以進行統計處理。
測量單位
測量單位是毫米，微米，密耳，密耳。
可以隨時更位，並自動轉換測量值。
測量原理
 | 當載有高頻電流的探頭（測量線圈）靠近金屬時，在金屬表麵會產生渦電流。該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率，金屬的電導率，厚度，形狀等的影響，並且穿透深度及其大小不同。 然後，渦流流動以抵消探針的高頻磁場，從而探針的高頻電阻值改變。由於高頻電阻的這種變化的幅度通常與薄膜厚度值不成比例，因此通過將其與內置或用戶創建的特性曲線（校準曲線）進行比較，可以將其轉換為薄膜厚度值，並顯示在在計算機屏幕上顯示它。 |
渦流膜厚儀DMC-211的規格
| 型號（主體） | Dermes DMC-211型 |
| 原則 | 渦流法 |
| 測量方式 | 厚度測量 |
| 通道數 | 40個頻道 |
| 資料容量 | 100,000個數據 |
| 展示 | 取決於計算機的顯示器屏幕 |
| 統計處理 | 值，最小值，平均值，標準偏差，直方圖，上限和下限設置 |
| 電源 | AC100-240V，50 / 60Hz 10VA（主機） |
| 重量 | 3.0公斤 |
| 尺寸 | 280（寬）x 230（深）x 88（高）毫米 |
（注）規格如有變更，恕不另行通知。
渦流膜厚儀DMC-211的探頭規格
| 1. 探頭有效範圍使用超細探頭時 | φ5mm的 φ3mm的 |
| 2.探頭線長 | 900毫米 |
| 3.根據導向器的類型可以在彎曲的表麵上進行測量 | |
| 4.探頭類型 | MP類型...平坦凹凸曲麵（標準） SM類型...平坦凹凸曲麵（微細的） RP類型...凹麵，管內麵 SR型...用於小直徑管道內表麵 由所述膜測得的探頭A，B的厚度，有C和D四種類型。 |
| 5.探針指南 | ＃180：平麵測量 ＃120：φ25-60mm凸曲麵測量 |
