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日本optiworks 4D技術表麵輪廓儀(yi) NanoCam Sq
特征
地表觀測係統基於(yu) 有的超高速幹涉儀(yi) “動態幹涉儀(yi) "
4D技術自主研發的“動態幹涉儀(yi) ",可實現100微秒標準的超高速幹涉測量。即使在無法避免振動的地方也可以進行測量。
輕巧緊湊
機身尺寸約為(wei) 24 x 24 x 8 厘米,重量約為(wei) 4.6 千克。便攜性強,可攜帶在被測物體(ti) 附近進行接近測量。多種可選
鏡頭 長工作距離幹涉儀(yi) 用物鏡 ×2.5、×5、×10、×20、×50(開發中)
內(nei) 置LED光源(460nm)
綜合分析軟件“4Sight™"
“動態幹涉測量法"
傳(chuan) 統的移相幹涉儀(yi) 使用壓電元件等移動參考平麵,獲取幹涉條紋的圖像,並計算相位分布。單次測量至少需要100毫秒,在此期間幹涉儀(yi) 與(yu) 測量樣品之間會(hui) 發生相對振動和空氣波動,導致幹涉條紋發生波動,導致測量誤差增加。為(wei) 了防止這種情況,需要光學麵板、防振裝置、擋風玻璃等。
4D Technology的動態幹涉儀(yi) 是一種劃時代的係統,以其“動態幹涉測量"解決(jue) 了此類問題。
在“動態幹涉"中,無需機械移動參考平麵,一次圖像數據采集即可獲得四幀相移幹涉圖。由於(yu) 對相機的每個(ge) 像素進行相移,因此可以穩定地收集數據,並且由於(yu) 一次測量的時間可以縮短到 30 微秒,因此可以在幹涉圖像因振動等而發生變化之前的瞬間進行測量.完成。
這使得可以在振動不可避免的環境中進行測量,測量遠處的樣品和移動物體(ti) ,以及測量在室內(nei) 進行環境試驗的樣品。
日本optiworks 4D技術表麵輪廓儀(yi) NanoCam Sq
“4Sight™"數據分析軟件
用於(yu) 高級幹涉儀(yi) 的高級軟件。4D Technology 的 4Sight™ 被認為(wei) 業(ye) 界良好的幹涉測量軟件。
數據采集
・可以在4Sight™測量控製台查看實時圖像的同時進行調整
・多種數據采集模式,如單次、平均、連續、差分和突發(電影)
數據分析
・斜率、直方圖
・衍射分析(PSF、MTF、自協方差)
・幾何光學分析(點擴散強度分布、圓形或方形孔徑能量分布)
・澤尼克分析
・各種掩模函數和其他自定義(yi) 分析函數可以添加。