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日本optiworks非接觸式 3D 測量係統Modular Optical Pen DUO
產(chan) 品特征
1 實現更精確的表麵形狀測量，更寬的測量範圍
除了以前型號中使用的測量方法（“共焦彩色模式"）外，還安裝了一種新的“幹涉測量模式"。現在可以處理更精確的表麵形狀測量。兩(liang) 種模式均可根據需要的測量精度使用，擴展了應用範圍。
2 模式控製器
該控製器可用於(yu) 共焦/彩色模式和幹涉測量模式。與(yu) 之前的型號一樣，係統配置簡單易用，隻需根據所需的測量精度更換筆形模塊即可。
測量原理（幹涉測量方式）
從(cong) 光源發出的光被測量對象、參考板（參考平麵）等反射。此時，兩(liang) 束反射光之間會(hui) 產(chan) 生光程差。如圖所示，將參考板插入待測物體(ti) 前，使其盡量靠近，當光程差進入相幹長度時，兩(liang) 束反射光就會(hui) 發生幹涉。由於(yu) 這種幹涉的光譜強度受波長調製，因此可以通過同軸顏色校正光學筆對其進行測量和分析，從(cong) 而實現更精確的厚度測量。
日本optiworks非接觸式 3D 測量係統Modular Optical Pen DUO
產(chan) 品特征
1 實現更精確的表麵形狀測量，更寬的測量範圍
除了以前型號中使用的測量方法（“共焦彩色模式"）外，還安裝了一種新的“幹涉測量模式"。現在可以處理更精確的表麵形狀測量。兩(liang) 種模式均可根據需要的測量精度使用，擴展了應用範圍。
2 模式控製器
該控製器可用於(yu) 共焦/彩色模式和幹涉測量模式。與(yu) 之前的型號一樣，係統配置簡單易用，隻需根據所需的測量精度更換筆形模塊即可。
測量原理（幹涉測量方式）
從(cong) 光源發出的光被測量對象、參考板（參考平麵）等反射。此時，兩(liang) 束反射光之間會(hui) 產(chan) 生光程差。如圖所示，將參考板插入待測物體(ti) 前，使其盡量靠近，當光程差進入相幹長度時，兩(liang) 束反射光就會(hui) 發生幹涉。由於(yu) 這種幹涉的光譜強度受波長調製，因此可以通過同軸顏色校正光學筆對其進行測量和分析，從(cong) 而實現更精確的厚度測量。
