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熒光X射線測量儀(yi) XDAL ®係列
熒光X射線測量儀(yi) XDAL ®係列
日本進口fischer熒光X射線測量儀(yi) XDAL ®係列
特征
- X 射線探測器包括配備半導體探測器 (PIN) 的 XDAL 237 和配備矽漂移探測器 (SDD) 的 XDAL 237 SDD。
- 配備帶編程功能的電動XY平台
- 外殼有一個狹窄的開口(C 槽),可以測量大的板狀樣品。
- 配備 4 種準直器和 3 種初級濾光片的多功能型號
主要規格
從(cong) 上往下看,是輻照式熒光X射線膜厚測量和材料分析儀(yi) 。可編程 XY 平台還允許自動連續測量。
模型 | 第 237 章 |
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測量元件範圍 | 氯 (17) -U (92) |
X射線探測器 | 半導體探測器(PIN) |
X射線管 | 微調焦管 |
初級過濾器 | 3種 |
準直器數量/尺寸 | 4種/Φ0.1mm-Φ0.6mm |
車身尺寸 | 570 x 760 x 650mm(寬 x 深 x 高) |
能量消耗 | 高達 120W |
模型 | XDAL 237 固態硬盤 |
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測量元件範圍 | 鋁 (13) -U (92) |
X射線探測器 | 矽漂移探測器 (SDD) |
X射線管 | 微調焦管 |
初級過濾器 | 3種 |
準直器數量/尺寸 | 4種/Φ0.1mm-Φ0.6mm |
車身尺寸 | 570 x 760 x 650mm(寬 x 深 x 高) |
能量消耗 | 高達 120W |
主要應用
- 從 0.1 µm 開始的薄膜分析
- 電子元件行業和半導體行業中功能膜的測量
- 多層膜測量
- 質量控製中的自動測量
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