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日本rika接觸探針
日本rika接觸探針
用於細間距檢查
它主要用於(yu) 半導體(ti) 晶圓檢查,目前支持的間距為(wei) 110μm。另外,可以支撐多種柱塞材料。
■高頻
它用於(yu) 半導體(ti) 檢查,具有與(yu) 器件加速相對應的出色RF特性,目前已縮短至1.6 mm。另外,可以處理多種柱塞材料。
■用於高溫
為(wei) 了滿足可靠性測試中探針的高耐熱溫度要求,我們(men) 目前擁有與(yu) 175°C兼容的HOTPIN係列。此外,我們(men) 正在進行進一步的高溫兼容性開發,這對於(yu) 車載設備檢查是有效的。
■對於開爾文
它用於(yu) 4端子測量,以實現可靠的探針接觸,並實現最小探針直徑φ0.15mm。另外,可以處理多種柱塞材料和形狀,從(cong) 而實現窄節距接觸。
■適用於大電流
特殊的結構實現了低電阻和大電流測量。
我們(men) 正在促進每個(ge) 螺距的探頭標準化,以實現更低的價(jia) 格和更短的交貨時間。我們(men) 建議將其與(yu) IC插座固定裝置組合使用。
- 間距為0.4mm
- 間距為0.5mm
- 間距為0.65mm
- 間距為0.8mm
- 間距1.0mm
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