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日本hrd熱成像範圍TSI

更新日期:2024-05-12

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廠商性質:經銷商

生產(chan) 地址:

簡要描述:
日本hrd熱成像範圍TSI
可視化加熱產生的空隙和裂縫
可視化加熱產生的空隙和裂縫

日本hrd熱成像範圍TSI

日本hrd熱成像範圍TSI

 

可視化加熱產生的空隙和裂縫

提高能源效率是節約能源的重要主題。著眼於(yu) 電子設備的功耗問題,該設備可以通過可視化和量化設備內(nei) 部的熱特性來評估接口的熱擴散率。此外,和DLC的導熱係數高,可節省能源,但評估允許熱量從(cong) 其界麵逸出的熱擴散係數非常重要。此外,據說這些物質之間的界麵的粘附性影響性能。該裝置旨在評估熱量對界麵的附著力。

 

特征

  • 激光加熱功能
  • 微距攝影光學係統(分辨率約20μm)
  • 高性能紅外熱像儀(7.5μm至13.5μm)
  • *的降噪技術

 

主要規格

 TSI-2
基本表現測量目標樣品缺陷,異質性,紅外輻射,簡單的溫度,熱性質
輸出數據頻率,距離,幅度,相位,亮度,圖像數據
分析模式點/區域分析,相位分析
附上其他溫度調製加熱器,控製/分析軟件,PC
測量環境溫度室溫〜250 [℃]
測量頻率0.1-10 [Hz]
紅外熱像儀元素數336 x 256
元素類型VOx微測輻射熱儀
像素大小17 [微米]
觀察波段7.5至13.5 [μm]
幀率30 [Hz]
解析度約30 [μm]
半導體激光器(連續振蕩)波長808 [納米]
輸出5 [W]
正弦波調製0.1至30 [Hz]
舞台動作範圍水平(XY軸)方向±15 [毫米]
垂直(Z軸)方向+50 [mm]
電源供應AC100-240 [V],10-5 [A],50/60 [Hz]
設備主體外形尺寸寬552 x深602 x高657 [mm]
重量76.5 [公斤]
激光安全標準CLASS1,IEC / EN 60825-1:2007

與常規無損檢測設備的比較

 TSI-2X射線探傷超聲波顯微鏡
得到什麽對比?○導熱係數的差異(可以進行的觀察)○X射線透過量○超聲波反射或速度差異
樣品處理◎不需要◎不需要△需要淹沒
解析度△約20μm◎1微米○1μm(但是,與觀察深度存在取舍關係)
滲透△適合在地麵附近觀察。◎高。可以使用CT法。(金屬很難穿透)△根據頻率而變化。分辨率也會改變。
觀察範圍◎更換方便。廣泛的支持△由於安全原因,觀察範圍是有限的。△安裝在水族箱中。需要掃描。觀察範圍是有限的。
觀察時間◎實時◎實時△需要掃描

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