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日本uniontoo接觸式外徑測量儀(yi) DS-2000
日本uniontoo接觸式外徑測量儀(yi) DS-2000
特長
實現分辨率0.01μm（10nm）
測定指示精度為(wei) ±0.1μm。提供納米級的管理環境。
實現*的直進性和反複測量精度
擁有獨自技術的可動方式因而順暢的測砧動作，使高精度測量成為(wei) 可能。
可以用一定的測量力度測量
可以防止因工件的大小不同而導致的測量錯誤。
另外，測量力度也可以根據客戶的要求來進行量身訂做。
測量使用實例
參考
測量實例介紹
接觸式外徑測量器係列
接觸式外徑測量儀(yi) DS-2000
PRODUCT 05數字測量器
- 接觸式外徑測量器係列
- 接觸式外徑測量儀 DS-2000
- PRODUCT 01PCB鑽頭・銑刀
