膜厚計L-500技術分析：頂級型號內置打印機和多項功能的膜厚計

簡介：
膜厚計L-500是一款頂級型號的膜厚計，具備內(nei) 置打印機、塊/組統計計算功能和新開發的探頭。本文將對其主要規格進行詳細分析，以便更好地了解該儀(yi) 器的技術特點和應用優(you) 勢。

測量方法：
膜厚計L-500采用電磁感應或渦流的測量方法，可根據需要選擇不同類型的探頭。這樣的設計使得膜厚計L-500可以測量磁性金屬上的非磁性塗層或非磁性金屬上的絕緣塗層。

測量範圍和精度：
膜厚計L-500的測量範圍取決(jue) 於(yu) 所使用的探頭類型。對於(yu) 電磁型探頭，其測量範圍分為(wei) EP-100、EP-110和EP-120三種，均為(wei) 0至2,500 μm。渦流型探頭的測量範圍為(wei) HP-100和HP-110，均為(wei) 0至1,200μm。

測量精度也依賴於(yu) 所使用的探頭類型。以電磁型探頭為(wei) 例，EP-100在不同厚度範圍內(nei) 的測量精度為(wei) ：小於(yu) 15μm時為(wei) ±0.3μm，15μm以上1,000μm時為(wei) ±2%，1,000μm以上時為(wei) ±3%。EP-110和EP-120的精度也有類似的規格。渦流型探頭HP-100和HP-110在不同厚度範圍內(nei) 的測量精度為(wei) ：50μm以下時為(wei) ±1.0μm，50μm以上時為(wei) ±2%。

解決(jue) 力：
膜厚計L-500的解決(jue) 力為(wei) 100μm以下為(wei) 0.1μm，100μm以上為(wei) 1μm。這意味著在測量過程中，對於(yu) 較薄的塗層，能夠提供更精細的測量結果。

兼容標準：
膜厚計L-500符合多種兼容標準，包括電磁感應型和渦流型的標準，如JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840、ASTM B 499、ASTM D 7091和ASTM E 376。這一特性使膜厚計L-500獲得了更廣泛的應用領域和可靠性。

統計功能：
膜厚計L-500具備測量次數、平均值、標準差、最大值、最小值、塊和組等統計功能。通過這些功能，用戶可以更方便地進行數據分析和比較，提高工作效率。

探測和顯示方式：
膜厚計L-500采用EP-100/110/120和HP-100/110的單點接觸恒壓型探頭，能夠確保測量的穩定性和準確性。同時，膜厚計L-500采用數字式LCD顯示屏，最小顯示位數為(wei) 0.1μm，提供清晰的數據展示。

外部輸出和電源：
膜厚計L-500通過USB串口支持外部輸出功能，方便數據傳(chuan) 輸和處理。其電源可選擇使用AC100-240V電源或8節1.5V的AA堿性電池（主機和打印機各4節），適應不同的工作環境和場景。

尺寸、質量和配件：
膜厚計L-500的尺寸為(wei) 126（寬）x 256（深）x 93（高）毫米，重量為(wei) 750克，適合攜帶和使用。配件包括鐵底座（適用於(yu) EP-100探頭）、鋁底座（適用於(yu) HP-100探頭）、標準板（10μm、50μm、100μm、500μm、1000μm、1500μm各一張）等，同時還提供電池、AC適配器、電源線、探頭適配器、背帶、打印紙、表麵保護片、標準板盒、便攜包、簡易調節指南和使用說明書(shu) 等配件。

選項：
膜厚計L-500提供一些選件供用戶選擇，例如厚度不同於(yu) 配件的標準板、膜厚計測量架LW-990以及校準服務。這些選項可以根據實際需求來進一步擴展和定製膜厚計L-500的功能。

結論：
膜厚計L-500作為(wei) 一款頂級型號，具備內(nei) 置打印機、塊/組統計計算功能和新開發的探頭。其采用的測量方法、測量範圍、精度和解決(jue) 力等方麵的規格都可以滿足各種應用需求。同時，膜厚計L-500還具備豐(feng) 富的兼容標準、統計功能和外部輸出接口，為(wei) 用戶提供便捷的數據分析和處理方式。其尺寸適中，配件豐(feng) 富，選項多樣，使得膜厚計L-500成為(wei) 廣泛應用於(yu) 塗層行業(ye) 的高效、準確和可靠的儀(yi) 器。